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TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后,运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化开短路学习模式设定,满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程,无疑是一台抵两台的选择,无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易
◆ 电脑自动学习并自动产生,开/短路、Pin Information及IC
◆ 保护二极体之测试程式
◆ 电脑自动隔离点选择功能,自动判断信号源及信号流入方向
◆ 可网路连线,并结合资料库管理及测试站监控程式
◆ 完整测试统计资料及报表产生,且自动储存,不因断电而遗失数据
◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能
◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修
◆ 高科技半导体CMOS Switching设计,无寿命限制,待测物安全性高
◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式
◆ 大型主机设计,高密度SwitchingBoard,可达3584测试点
◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能
◆ 多重安全性设计,确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术,检测SMT元件开路空焊问题,效果好
◆ 应用IC Clamping Diode技术,可辅助检测 BGA 开路空焊问题
◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题
◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60%
◆ 选项功能强大,可针对同之测试需求,加装如频率量测、 电压量测、电流量测
◆ 具备1MHZ信号源,可量测小电容小电感
◆ 具三点量测模式,可量测电晶体FET、SCR等元件,并可对Photo-Coupler提供四点量测,确实检测上述元件 之反插问题
◆ 具Pin Contact检查功能
5001E满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求,所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay,适用模拟产品及高压电流之检测,并可整合动态量测 。而高密度之设计及软件技术,使TR518FR之测点可高达2560测试点,其速度亦较传统的ICT快80%以上。
5001E在线测试仪规格参数
测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT)
测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V
电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V
二手德律ICT 二手TR-5001E元件测试仪
强大的软件作业环境:
使用Windows7作业系统
电脑自动学习并自动产生测试程式
电脑自动隔离点选择功能
可网路连线,并结合资料库管理及测试站监控程式
完整测试统计资料及报表产生,且自动储存,不因断电而遗失数据
系统具自我诊断功能及远端遥控功能
BoardView 功能
完善的硬体架构设计
使用USB介面
的Reed Relay Switching 设计
可程式化开/短路Threshold设定, 适用各类产品量测
适用于不同操作介面
高密度 Switching Board
多重安全性设计
100伏高压定电流源
的测试技术整合.
TR5001E测试仪
二手TR5001E搭配两段式压床将可降低治具成本,此ICT为PCBAs测试之可扩充平台。TR5001E可以依客户的测试需求,提供经济的测试解决方案,并且可完全满足大多数客户之测试要求。TR5001E整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力,缩短测试时间并提高产能。
二手ICT TR5001E特点
. 模组化升级选项,可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
. 高测试覆盖率之解决方案
. 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充
. 人性化接口搭配快速又简单的程序发展
规格
. 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字)
. 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7
. 测试治具 两段式压床
. 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm
. 模拟硬件
1、六线式量测
2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源
3、AC/DC电压源, DC电流源量测
4、元件R/L/C量
. 选配硬件
。模拟测试
1、TestJet技术非向量式开路检测,任意波形产生器(AWG)
。数字测试
1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计
2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A
4、边界扫描, BGA Tree测试能力
5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E
选ICT 二手TR5001E
二手TR-5001E元件测试仪 性,成本低,适合选择
美国安捷伦公司针对SMD IC接脚开路难以完整侦测的问题,成功的研发出Agilent TestJet Technology的技术以因应。本公司在取得安捷伦公司的专利授权后,已于JET-300 ICT 系统上配备了此技术,大幅提升了数位电路板的可侦测率。电脑主机板、介面卡或传真机、数据机的机板皆可得到满意的测试效果。其应用上的优点如下:
1.Agilent TestJet Technology的功能是利用量测一个铜箔板与IC脚框(Frame) 之间的电容量来侦测接脚的断路与否。此技术无需撰写任何程式,即可做正确而迅速的测试。
2.Agilent TestJet Technology可测试各种不同包装的IC, 如 Insertion type,PLCC type,QFP type,TAB type,PGA type (无接地者),BGA type (OMPAC)等都可测试。
3.Agilent TestJet Technology也可用来侦测各种插座的接脚断路,不论是Insertion type或是 SMD type皆可侦测。
————— 认证资质 —————