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AT-01在线测试仪 Frame Scan&Delta Scan的概要 结构扫描和三点扫描是由美国泰瑞达公司开发的技术，是为了检测生产过程中发生的包括IC接脚的虚焊，冷焊在内的各种复杂不佳现象开发而成的*技术。随着SMT IC的普及应用，各种封装模式由原来的插件形式改为PGA，BGA和CSP形式，快速的向电路板部件高密集化发展。AT-01就是为了适应上述技术变化，特别装载了美国泰瑞达公司的结构扫描和三点扫描，使其技术的融合到AT-01，做到了测试速度快，性价比测试结果稳定等特点的值得您信赖的在线测试仪。 AT-01在线测试仪
主要测试电路板的开短路、电阻、电容、电感、二极管、三极管、电晶体、IC等元件！ 早期，业内将ATE设备也归在ICT这一类别中，但因ATE测试相 基本上所在的大型电路生产商都要用到ICT测试，象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等！
80年代台湾由令西方头疼的电子电脑假货来源地逐渐成为电子代工制造重要基地，于上世纪80年代后期，90年代初期，台湾开始完全仿制TESCON测试仪，并推出众多品牌的压床式ICT，其价格更加低廉，迫使曾市占率的日本TESCON淡出市场，并因台湾电子代工业大发展而大幅提高市占率。从上世纪70年代开始，国内即有开发类似的静态测试仪，1993年，中国本土品牌更日本韩国台湾及香港开发出全亚洲台windows版的ICT。时至今日，美国泰瑞达和安捷伦仍是，成为事实上的此类技术的标准!
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