揭阳出售二手TR-5001E测试仪

◆ 多重安全性设计，确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空焊问题，效果好 ◆ 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题 ◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题 ◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60% ◆ 选项功能强大，可针对同之测试需求，加装如频率量测、 电压量测、电流量测 ◆ 具备1MHZ信号源，可量测小电容小电感 ◆ 具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插问题 ◆ 具Pin Contact检查功能 在线测试仪规格参数表 项 目 详 细 参 数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点

网络连线及远端遥控维修，Bar Code Reader(Printer)Package, Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator 光电保护及多连板自动盖章功能 实装板程式烧录功能 *选项测试功能 HP TestJet功能： 可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD 扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up 电源 AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W 尺寸重量 OFF LINE TYPE: 960mm(宽)×850mm(深)×1530mm(高),约200Kg IN LINE TYPE: 1000mm(宽)×720mm(深)×17200mm(高),约350Kg

5001E满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求，所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay，适用模拟产品及高压电流之检测，并可整合动态量测 。而高密度之设计及软件技术，使TR518FR之测点可高达2560测试点，其速度亦较传统的ICT快80%以上。 5001E在线测试仪规格参数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V 电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V

规格 . 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字) . 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7 . 测试治具 两段式压床 . 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm 选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm . 模拟硬件 1、六线式量测 2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源 3、AC/DC电压源, DC电流源量测 4、元件R/L/C量 . 选配硬件 。模拟测试 1、TestJet技术非向量式开路检测，任意波形产生器(AWG) 。数字测试 1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计 2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A 3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A 4、边界扫描, BGA Tree测试能力 5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E 选ICT 二手TR5001E

Agilent TestJet Technology也可用来侦测各种插座的接脚断路，不论是Insertion type或是 SMD type皆可侦测。 宽频而准确的相位分离量测法 对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法，分别量出其零件值，由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz)，因此可以侦测的范围优于一般的ICT，像下图线路中的零件都可以准确量测。 三端点、四端点量测 可对三端点的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，FET，SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER，做正确的测试，如有反插或零件损坏，必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。

TR5001E特点
. 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
. 高测试覆盖率之解决方案
. 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充
. 人性化接口搭配快速又简单的程序发展