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边界扫描技术解决了无法增加测试点的困难，更重要的是它提供了一种简单而且快捷地产生测试图形的方法，利用软件工具可以将BSDL文件转换成测试图形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解决编写复杂测试库的困难。
Nand-Tree是Intel公司发明的一种可测性设计技术。在我司产品中，现只发现82371芯片内此设计。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件，我们可将此文件转换成测试向量。
ICT测试要做到故障定位准、测试稳定，与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后，可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。
在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时，只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际实用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点，消除外围电路对测试的影响。
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AC100V-120V，200V-240V，50Hz-60Hz,350W 尺寸重量 OFF LINE TYPE: 960mm(宽)×850mm(深)×1530mm(高),约200Kg IN LINE TYPE: 1000mm(宽)×720mm(深)×17200mm(高),约350Kg 产品特色 1、的Reed Relay Switching设计，耐压性强，隔离效果 2、计算机自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向 3、大型主机设计，高密度Switching Board，可达2560测试点 4、可加装调整装置具动态调整功能
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