蚌埠销售二手TR-5001E测试仪

其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。 ◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易 ◆ 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC ◆ 保护二极体之测试程式 ◆ 电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向 ◆ 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 ◆ 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据 ◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能 ◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修 ◆ 高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物安全性高 ◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式 ◆ 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，可达3584测试点 ◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能

5001E满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求，所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay，适用模拟产品及高压电流之检测，并可整合动态量测 。而高密度之设计及软件技术，使TR518FR之测点可高达2560测试点，其速度亦较传统的ICT快80%以上。 5001E在线测试仪规格参数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V 电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V

Agilent TestJet Technology也可用来侦测各种插座的接脚断路，不论是Insertion type或是 SMD type皆可侦测。 宽频而准确的相位分离量测法 对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法，分别量出其零件值，由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz)，因此可以侦测的范围优于一般的ICT，像下图线路中的零件都可以准确量测。 三端点、四端点量测 可对三端点的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，FET，SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER，做正确的测试，如有反插或零件损坏，必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。

电解电容极性测试 以三端点法侦测铝质电解电容极性反插，可测率****；以测漏电流方式侦测电解电容极性反插，可测率。 软体系统　 JET-300拥有一般ICT的软体功能，无论是在测试前的程式制作支援软体, 或是测试后的不良资讯和资料分析，都有高水准的表现。在微软中文视窗环境下执行的系统程式，操作容易，功能强大。 差零件(焊点) 系统可列印出不良数多的零件(名)和不良次数多的焊点( 点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。 测试资料统计的日报表和月报表 图表上半的长条图用以显示当月份每日累积OPEN/SHORT，零件不良率及整个测试的可接受率。图表的下半派图用以清楚明瞭地显示当日各不良原因的百分比。

规格
. 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字)
. 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7
. 测试治具 两段式压床
. 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm
选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm

HP TestJet功能：

可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD

大扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin

Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz

Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz

Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V

Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up