淄博出售二手TR-5001E测试仪

来源：东莞市寮步德律电子设备经营部 时间：2024-07-02 10:37:41 [举报]

产品详情： 二手TR5001E ICT在线测试仪（二手德律TR-518FE） 产品说明 ICT在线测试仪是DL科技继成功推出TR518之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。 产品特色 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC保护二极体之测试程式　 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，高可达3584测试点 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题 TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。

◆ 多重安全性设计，确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空焊问题，效果好 ◆ 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题 ◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题 ◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60% ◆ 选项功能强大，可针对同之测试需求，加装如频率量测、 电压量测、电流量测 ◆ 具备1MHZ信号源，可量测小电容小电感 ◆ 具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插问题 ◆ 具Pin Contact检查功能 在线测试仪规格参数表 项 目 详 细 参 数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点

5001E满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求，所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay，适用模拟产品及高压电流之检测，并可整合动态量测 。而高密度之设计及软件技术，使TR518FR之测点可高达2560测试点，其速度亦较传统的ICT快80%以上。 5001E在线测试仪规格参数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V 电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V

TR5001E测试仪 二手TR5001E搭配两段式压床将可降低治具成本，此ICT为PCBAs测试之可扩充平台。TR5001E可以依客户的测试需求，提供经济的测试解决方案，并且可完全满足大多数客户之测试要求。TR5001E整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力，缩短测试时间并提高产能。 二手ICT TR5001E特点 . 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统 . 高测试覆盖率之解决方案 . 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充 . 人性化接口搭配快速又简单的程序发展

规格 . 测试点数 可达3200(模拟)/1600(数字) . 作业系统 微软Microsoft Windows 2000/XP/7 . 测试治具 两段式压床 . 可测电路板尺寸 标准: (宽) 360 mm x (长) 300 mm x (高) 100 mm 选配: (宽) 500 mm x (长) 350 mm x (高) 100 mm . 模拟硬件 1、六线式量测 2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源 3、AC/DC电压源, DC电流源量测 4、元件R/L/C量 . 选配硬件 。模拟测试 1、TestJet技术非向量式开路检测，任意波形产生器(AWG) 。数字测试 1、每脚位全新数位1:1非多工式驱动/接收比设计 2、待测板电源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A 3、可编程DUT电源: 25V@8A, 75V@2.5A 4、边界扫描, BGA Tree测试能力 5、支援快闪记忆体及EEPROM及MAC的在线烧录TR-5001E 选ICT 二手TR5001E

TR5001E特点
. 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
. 高测试覆盖率之解决方案
. 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充
. 人性化接口搭配快速又简单的程序发展

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