飞针ICT基本只进行静态的测试,优点是不需制作夹具,程序开发时间短。
针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试,故障覆盖率高,但对每种单板需制作的针床夹具,夹具制作和程序开发周期长。
它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏,Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路,元件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚焊,PCB短路、断线等故障。
测试范围
电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V
电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V
电感:1.0UH至60H
隔离点电路
隔离点自动选择,每测试步骤5点
测试值上下限设定范围
上限:+1%至999% 下限:-1%至-99%
可测电路板尺寸
标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)
选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.